SJ 50033.56-1994 半导体分立器件 ２ＣＫ８５型硅开关二极管详细规范
作者:标准资料网 时间:2024-05-20 11:14:55 浏览:9233
来源:标准资料网
基本信息
| 标准名称： | 半导体分立器件 ２ＣＫ８５型硅开关二极管详细规范 |
| 英文名称： | Semiconductor discrete device-Detail specification for type 2CK85 silicon switching diode |
| 中标分类： |
通信、广播 >>
通信、广播综合 >>
技术管理 |
| 发布部门： | 中华人民共和国电子工业部 |
| 发布日期： | 1994-09-30 |
| 实施日期： | 1994-12-01 |
| 首发日期： | 1900-01-01 |
| 作废日期： | 1900-01-01 |
| 归口单位： | 中国电子技术标准化研究所 |
| 起草单位： | 济南半导体四厂和中国电子技术标准化研究所 |
| 起草人： | 王启进、吕安良、于志贤 |
| 出版社： | 中国电子工业出版社 |
| 出版日期： | 1994-12-01 |
| 页数： | 8页 |
适用范围
本规范规定了２ＣＫ８５型硅开关二极管（以下简称器件）的详细要求。
本规范适用于器件的研制、生产和采购。
前言
没有内容
目录
没有内容
引用标准
没有内容
所属分类： 通信 广播 通信 广播综合 技术管理
基本信息
| 标准名称： | 对流层散射通信设备测量方法 |
| 英文名称： | Methods of measurement for tropsphering scattering communication equipment |
| 中标分类： |
综合 >>
标准化管理与一般规定 >>
技术管理 |
| 发布部门： | 中国电子工业总公司 |
| 发布日期： | 1992-02-01 |
| 实施日期： | 1992-05-01 |
| 首发日期： | 1900-01-01 |
| 作废日期： | 1900-01-01 |
| 提出单位： | 中国电子工业总公司科技质量局 |
| 归口单位： | 中国电子技术标准化研究所 |
| 起草单位： | 机械电子工业部第五十四研究所 |
| 出版社： | 电子工业出版社 |
| 出版日期： | 1992-04-01 |
| 页数： | 19页 |
适用范围
本标准规定了对流层散射通信设备的电气性能测量方法。本标准用于各种对流层散射通信设备电气性能测量。如图１所示，本标准所指对流层散射通信设备包含辅助复接器和辅助分接器到天线馈线接口之间的设备。对于特殊要求及本标准未作规定的测量方法，可在产品技木条件中另行规定。
前言
没有内容
目录
没有内容
引用标准
GJB 367.2-1987 军用通信设备通用技术条件 环境试验条件
所属分类： 综合 标准化管理与一般规定 技术管理
【英文标准名称】:Aerospaceseries.R-glassrovings.Productstandard.RovingsonthebasisofstrandsRC1080P9HT.
【原文标准名称】:航空航天系列.R-玻璃粗纱.产品标准.RC1080P9HT标准基础上粗纱
【标准号】:NFL17-751-1992
【标准状态】:现行
【国别】:法国
【发布日期】:1992-04-01
【实施或试行日期】:1992-04-20
【发布单位】:法国标准化协会(AFNOR)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:
【英文主题词】:
【摘要】:
【中国标准分类号】:V13
【国际标准分类号】:49_025_60
【页数】:6P;A4
【正文语种】:其他
